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xrd表征手段的谱图是什么样的（xrd表征怎么看）
发布时间：2023-04-22 04:25:55
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大家好！今天让创意岭的小编来大家介绍下关于xrd表征手段的谱图是什么样的的问题，以下是小编对此问题的归纳整理，让我们一起来看看吧。
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本文目录:
一、关于XRD谱图分析，在线等！！！！！！！
金红石型TiO2属于四方晶系,通过对照JCPDS粉末衍射卡，可以看到衍射峰与标准金红石型TiO2一致，表明制备出目标产物，而且峰型尖锐，衍射强度高，说明产物晶型良好。其中110晶面（27.4度），101晶面（36.1度），111晶面（41.2度），211晶面（54.3度），220晶面（56.6度），002晶面（62.8度），112晶面（69.8度）是金红石型TiO2特征衍射峰。除此之外并未发现其他物质的衍射峰，说明所制备的产物纯正，无杂质。
以上就是单张XRD谱图能得出的结论了，如果多张进行比较，还可以根据峰强度的大小判断晶型的好坏，半峰宽的的大小判断平均晶粒尺寸的大小。
二、请教：做SAPO分子筛，XRD谱图，都看图中的什么？分别能得到什么？
从d值可以与标准物相的pdf卡片比对进行定性分析，即看出都有什么物相，从峰的高度可以看出含量的多少，峰越高一般来说含量越多，峰的宽度表征的是晶粒大小，越宽晶粒越小，可以将半峰宽以弧度为单位代入谢乐公式计算晶粒大小，但是这个公式只适用于100纳米以下的小晶粒物相，大的就不准了；结晶度可以计算，用Highscore或者jade5。0类似的软件几乎可以完成上述全部功能。
三、求助：XRD得到的各矿物成分的谱图怎么分析
一、分析方法：1、数据的输入Jade软件可以直接读取Rigaku、Bruker、Philips、Scintag等很多衍射仪的原始数据。打开File\patterns,将出现如附件中所示画面，先（I）找到你文件位置，从（III）的下拉框中选择你的数据格式，按（II）选择。很多仪器输出文件的格式都是*.raw,实际上都是不一样的，但格式选错了也没关系，软件会给你自动转到合适的格式中去的。高级一点的：有一些数据格式在（III）的下拉框中没有，比如最常见的txt，xy等，此时你可以自己动手设置，在以上的数据输入面板中，点击工具栏上的“import",进入格式设置画面，如附件所示，a区为注释区，b区为数据格式区，对于最简单的一列角度，一列强度的数据格式，a区不用填写，b区在”anglecolumn“前打上勾，数据从第1行开始读，每行1列数据，强度数据从第8行开始（角度不算），角度从1至6列，所得数据格式即为附件中所示的数据格式。你也可以按照自己的数据格式进行自由改动，如果a区中表明第1行有说明文字，则数据从第2行读入，相应在b区就将datastarts改成2。做完上面的工作后，将文件后缀改为你的数据后缀（箭头所指），再将该格式保存下来便可大功告成了。2基本功能使用：平滑，扣背底一张XRD图谱出来，往往因为有空气散射，漫散射，荧光以及样品结晶差等等原因而造成图谱上存在许多“毛刺”和较高的背底，虽然提高X光强度能成倍提高信噪比，然而有时受仪器和样品所限，这两项功能需要用到。但根据我个人的经验，要尽量少使用平滑和扣背底，因为这两项操作带来的可能后果就是将一些微弱的有用信息一概抹掉了，特别注意的是，如果将数据用来做Rietveld精修，更不要进行这两项操作。当然，如果是将图谱打印出来给别人看，适当进行平滑和扣背底也是个不错的选择。3寻峰和峰型拟合在寻峰之前最好用标样校正过2theta值，这些都是仪器操作人员的事情，我就不说了。打开analyze/findpeaks，或右键单击快捷工具栏中的图标。出现一个悬浮框，在“search”里面可以对寻峰的判据进行设置，大家可以改动不同的限制条件，然后按“apply”看看有什么变化。在“Label”里面主要是可以选定标注的内容，如d值，2theta值，半峰宽，强度等，这些大家多试几次就OK了。如果要将寻峰结果列出，按下“report”即可。也可以自己手动直接在图谱上标峰，大家可以看到有一个悬浮式快捷编辑框“edittoolbar”，左键点击第3个图标。然后就可以直接在峰顶标注，如果同时按住“Ctrl”键，则可以在图谱的任何位置上进行标注。如果要去掉某个峰的标注，则用鼠标将竖线拖到与峰的标注线重叠，出现红颜色之后点击右键即可。如果要删除所有的峰的标注，在窗口中点击右键，选定”Eraseall”即可。4峰型拟合如果要得到精确的峰型，峰位信息，一般都要经过峰型拟合，JADE提供了单峰拟合的功能。在峰型拟合前不要进行平滑和扣背底，也不主张预先自动寻峰。就像前面一位朋友说的，对于重叠峰的分离比较有难度，也可能会导致软件“罢工”（我也遇到过这种情况），但对于多数人来说，峰型拟合就等同于分峰，因此面对重叠峰是不可避免的，我的建议是高角度的峰舍弃，并且分峰要一小段接一小段地进行（背底严重的除外）。二、XRD测的简单介绍：XRD即X-raydiffraction的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线是一种波长很短(约为20～0.06埃)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。
四、XRD表示什么意思，由XRD图谱怎么分析物质结构？
首先简单说下原理——
角度θ为布拉格角或称为掠射角。关于XRD的测量原理比较复杂，要知道晶体学和X射线知识。简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时，若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入射线夹角为θ，满足衍射条件，则在衍射角2θ（衍射线与入射X射线的延长线的夹角）处产生衍射。
但在实际应用中，我们只需用仪器做出XRD图谱，然后根据pdf卡片来知道所测物质的种类，和结构。pdf卡片是X射线衍射化学分析联合会建立的物质的衍射数据库。他们制备了大量的物质，使用者只要把自己的图谱和标准图谱对比就能知道自己的物质种类及结构。随着计算机技术的发展，现在都是通过导入研究者测试得到的XRD图谱，电脑软件（如Jade）通过匹配度寻找与之比配的pdf卡片，很方便。
在XRD中，不仅可以定性得到物质的种类，相结构。而且可以通过谢乐公式得到晶粒尺寸以及通过精修手段得到晶胞常数。
实际操作过程中，一般都能得到一个XRD的测试图谱，在你尽可能提供多的信息情况下，比如物相的制备方法，所包含的元素等，与标准卡片对比，找到跟你XRD图谱一样的标准图谱，再分析，当然得到的结果中可能有多种物相，那样你就得根据你图谱上的峰的位置一条一条地去找卡片库，匹配，然后就OK了
以上就是关于xrd表征手段的谱图是什么样的相关问题的回答。希望能帮到你，如有更多相关问题，您也可以联系我们的客服进行咨询，客服也会为您讲解更多精彩的知识和内容。
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