高角度环形暗场扫描透射电镜(高角度环形暗场扫描透射电镜作用)
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本文目录:
一、扫描电镜与透射电镜有什么区别 扫描电镜与透射电镜有哪些不同
1、扫描电镜,是观察样品表面的结构特征;透射电镜,是观察样品的内部精细结构;
2、扫描电镜是相当与对物体的照相,得到的是表面的,只是表面的立体三维的图象;透射电竟就相当于普通显微镜,只是用波长更短的电子束替代了会发生衍射的可见光,从而实现了显微,是二维的图象,会看到表面的图象的同时也看到内层物质。
二、扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同?
1、方式不同
扫描电镜和电视扫描原理相同的成像方式,透射电镜和光学显微镜或者照相机成像原理相同的成像方式。
2、实现不同
扫描电镜利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样。透射电镜利用扫描透射模式时物镜的强激励,可以实现微区衍射。扩展资料:
透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件)上显示出来。
由于电子的德布罗意波长非常短,透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多,可以达到0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍。
因此,使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构,甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构,比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数万倍。TEM在中和物理学和生物学相关的许多科学领域都是重要的分析方法,如癌症研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等等。
在放大倍数较低的时候,TEM成像的对比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的。
而当放大率倍数较高的时候,复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同,因此需要专业知识来对所得到的像进行分析。通过使用TEM不同的模式,可以通过物质的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像。
三、透射电镜和扫描电镜的区别
透射电镜和扫描电镜的区别:结构不同、工作原理不同、对样品的要求不同、操作不同、放大倍数不同、用途不同等。透射电镜(TEM)可以将样品放大5000万倍以上,而对于扫描电镜(SEM)来说,限制在1-2百万倍之间。
透射电镜和扫描电镜的区别是什么
扫描电镜(SEM)使用一组特定的线圈以光栅样式扫描样品并收集散射的电子。而透射电镜(TEM)是使用透射电子,收集透过样品的电子。
透射式电镜常用于观察那些用普通显微镜所不能分辨的细微物质结构,而扫描电镜主要用于观察固体表面的形貌和物质成分分析。
透射式电镜的电子由钨丝热阴极发射出,通过第一、二两个聚光镜使电子束聚焦。扫描电镜的电子束仅以聚焦的方式呈现在样本的一小块地方。
操作环境
品牌型号:通用
系统版本:通用
四、偏光显微镜、扫描电镜和透射电镜在高分子材料研究中各有什么优缺点?求高人指点,急!谢谢
偏光显微镜可以观察材料折射宏观结构。
扫描电镜可以放大观察材料表面结构及元素分析
透射电镜可以穿透材料得到微观结构
总而言之就是由低倍到高倍,由宏观结构到微观结构
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