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    sem测试一般测多大倍数(sem测试需要多少样品)

    发布时间:2023-04-14 10:37:06     稿源: 创意岭    阅读: 81        

    大家好!今天让创意岭的小编来大家介绍下关于sem测试一般测多大倍数的问题,以下是小编对此问题的归纳整理,让我们一起来看看吧。

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    本文目录:

    sem测试一般测多大倍数(sem测试需要多少样品)

    一、扫描电镜SEM/EDX测试的井深是多少?

    ````

    应该是景深吧``

    焦深计算公式

    L= ±[(r/M)-d]/2α 其中:

    L: 焦深

    r: 显像管最小分辨距离

    M:放大倍数

    d:入射电子束直径

    2α:物镜孔径角。

    从上面的式子可以看出影响焦深的因素,其中隐含了工作距离w。物镜孔径角与工作距离和入射电子束直径有关。由于r(显像管的分辨率)和2α都是未知数,实际上不能计算。焦深也只是个人的视觉感受,还是直观的测量一下为好。

    又查了资料``显像管最小分辨距离为0.22mm-0.3mm, 孔径角的典型数值为10-2—10-3rad.利用公式L= ±[(r/M)-d]/2α可以计算出在有效放大倍率下的焦深数据。设d=3纳米,孔径角2α=10-2 rad,r=0.3mm。计算焦深如下:

    1000倍下为59.4微米。5000倍下为11.4微米。10000倍下为5.4微米。超过100000倍已经超过了有效放大倍率。不能计算。

    二、SEM和TEM区别

    扫描电子显微镜 SEM(scanning electron microscope)

    透射电镜TEM (transmission electron microscope)

    扫描电子显微镜

    是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具,主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像,这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的,即使用逐点成像的方法获得放大像。扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的人射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时,也可产生电子-空穴对、晶格振动 (声子)、电子振荡 (等离子体)。原则上讲,利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理,采用不同的信息检测器,使选择检测得以实现。如对二次电子、背散射电子的采集,可得到有关物质微观形貌的信息;对x射线的采集,可得到物质化学成分的信息。正因如此,根据不同需求,可制造出功能配置不同的扫描电子显微镜。

    透射电镜

    是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像, 投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。透射电镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~几十万倍。由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,必须制备更薄的超薄切片(通常为50~100nm)。其制备过程与石蜡切片相似,但要求极严格。要在机体死亡后的数分钟钓取材,组织块要小(1立方毫米以内),常用戊二醛和饿酸进行双重固定树脂包埋,用特制的超薄切片机(ultramicrotome)切成超薄切片,再经醋酸铀和柠檬酸铅等进行电子染色。电子束投射到样品时,可随组织构成成分的密度不同而发生相应的电子发射,如电子束投射到质量大的结构时,电子被散射的多,因此投射到荧光屏上的电子少而呈暗像,电子照片上则呈黑色。称电子密度高(electron dense)。反之,则称为电子密度低(electron lucent)。

    三、检测五金裂痕用多大倍数放大镜

    提问有些模糊。

    检测的目的是什么?

    如果是要查看裂纹的源头和裂纹形貌,我们帆泰检测是用的SEM,10万倍左右可以看的很清晰了,主要是用来做材料的失效分析;

    如果你是QC验货来查看,一般10倍的目镜就够了。

    四、扫描电镜20um是放大多少倍

    只知道标尺无法知道放大倍数。

    拿尺子量一下标尺,用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数。

    例如:尺子量出标尺长10mm,标尺上标称10um,那么放大倍数就是10mm/10um就是1000倍。

    扫描电镜的放大率与普通光学显微镜不同,在SEM中,是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。所以,SEM中,透镜与放大率无关。

    sem测试一般测多大倍数(sem测试需要多少样品)

    工作原理:

    SEM的工作原理是用一束极细的电子束扫描样品,在样品表面激发出次级电子,次级电子的多少与电子束入射角有关,也就是说与样品的表面结构有关,次级电子由探测体收集,并在那里被闪烁器转变为光信号,再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度,显示出与电子束同步的扫描图像。

    图像为立体形象,反映了标本的表面结构。为了使标本表面发射出次级电子,标本在固定、脱水后,要喷涂上一层重金属微粒,重金属在电子束的轰击下发出次级电子信号。

    以上就是关于sem测试一般测多大倍数相关问题的回答。希望能帮到你,如有更多相关问题,您也可以联系我们的客服进行咨询,客服也会为您讲解更多精彩的知识和内容。


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