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    eds测试主要测什么(eds测试原理)

    发布时间:2023-04-14 04:03:38     稿源: 创意岭    阅读: 131        

    大家好!今天让创意岭的小编来大家介绍下关于eds测试主要测什么的问题,以下是小编对此问题的归纳整理,让我们一起来看看吧。

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    本文目录:

    eds测试主要测什么(eds测试原理)

    一、XRD、IR、SEM、EDS及紫外可见吸收的测试原理及具体分析步骤(材料测试技术里面的)

    SEM:材料的表面形貌,形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息

    TEM:材料的表面形貌,结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成

    FTIR:主要用于测试高分子有机材料,确定不同高分子键的存在,确定材料的结构。如单键,双键等等

    Raman:通过测定转动能及和振动能及,用来测定材料的结构。

    CV:CV曲线可以测试得到很多信息,比如所需电沉积电压,电流,以及半导体行业可以得到直流偏压

    EIS:EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位,阻抗信息,从而模拟出系统内在串联电阻,并联电阻和电容相关信息

    BET:主要是测试材料比表面积的,可以得到材料的比表面积信息。

    XRD:主要是测试材料的物性,晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。

    质谱:主要用于鉴定材料的化学成分,包括液相质谱,气象质谱

    二、EDS测试深度的问题

    是从表层到下面几微米厚度内的元素分布,不是十分精确,原子序数小于8的基本测不出来

    三、eds测试可以定点测试吗

    eds测试可以定点测试。而能谱分析法(EDX)能迅速对微区的成分进行定性定量分析,帮助找出污染失效的源头,从而提出行之有效的改善措施。在微区成分分析中,能谱分析法是主要的手段之一。

    四、XRD与EDS有什么区别?求大神

    SEM,EDS,XRD的区别,SEM是扫描电镜,EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪,是用来对材料微区成分元素种类与含量分析,配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪,是用于物相分析的检测设备。

    SEM用于观察标本的表面结构,其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品,在样品表面激发出次级电子,次级电子的多少与电子束入射角有关,也就是说与样 品的表面结构有关,次级电子由探测体收集,并在那里被闪烁器转变为光信号,再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度,显示出与电子束同步的扫描图像。图像为立体形象,反映了标本的表面结构。

    EDS的原理是各种元素具有自己的X射线特征波长,特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E,能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。

    XRD是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。

    说简单点,SEM是用来看微观形貌的,观察表面的形态、断口、微裂纹等等;EDS则是检测元素及其分布,但是H元素不能检测;XRD观察的是组织结构,可以测各个相的比例、晶体结构等。

    以上就是关于eds测试主要测什么相关问题的回答。希望能帮到你,如有更多相关问题,您也可以联系我们的客服进行咨询,客服也会为您讲解更多精彩的知识和内容。


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