4、EDS分析求助
eds能谱分析原理(eds能谱分析的原理)
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本文目录:
一、eds能谱分析报告元素的比例
eds能谱分析报告元素的比例:2:1。
EDS主要检测无机成分在固体微观区域分布状态,定量研究无机元素分布均匀程度。 一般使用无标样定量分析,主元素的定量精度较高,相对误差±2%范围内,微量及痕量元素相对误差很大。
地下金属探测器采用声音报警及仪表显示,探测深度跟被探金属的面积、形状、重量都有很大的关系,一般来说,面积越大,数量越多,相应的探测深度也越大;反之,面积越小,数量越少,相应的深度就越小。
测试原理
当X射线光子进入检测器后,在Si(Li)晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的(在低温下平均为3.8ev),而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε,因此,入射X射线光子的能量越高,N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对,经过前置放大器转换成电流脉冲,电流脉冲的高度取决于N的大小。
以上内容参考:百度百科-能谱仪
二、eds是什么意思?
eds是指能谱仪。
能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析,配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。
指标:
固体角:决定了信号量的大小,该角度越大越好
检出角:理论上该角度越大越好
探头:新型硅漂移探测器(SDD)逐步取代锂硅Si(Li)探测器
能量分辨力:最高级别的能谱仪分辨力可达121eV
探测元素范围:Be4~U92
三、EDS及XRD的性能区别
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试,XRD是测试晶体结构的。
2、EDS
(Energy
Dispersive
Spectrometer)能谱分析,能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围:4-100号元素定性定量分析。
特点:
(1)能快速、同时对各种试样的微区内Be-U的所有元素,元素定性、定量分析,几分钟即可完成。
(2)对试样与探测器的几何位置要求低:对W.D的要求不是很严格;可以在低倍率下获得X射线扫描、面分布结果。
(3)能谱所需探针电流小:对电子束照射后易损伤的试样,例如生物试样、快离子导体试样、玻璃等损伤小。
(4)检测限一般为0.1%-0.5%,中等原子序数的无重叠峰主元素的定量相误差约为2%。
3、XRD,X射线衍射是测定晶体结构的。X射线衍射,通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,分析材料的成分等。
四、EDS分析求助
1. 可以。无论是SEM还是TEM均可,只是多数情况下,EDS采用无标样定量,定量分析结果是半定量的,不能作为决断性证据,而只能做其他表征手段的support information。分析方法很简单,EDS能谱都有直接定量分析的功能,为了准确,你可以多点分析(大于20个点),取平均值。2. 一个点的分析区域对于通常的SEM区域是以电子束束斑为大小的圆斑,往下是一个梨形扩展区,通常会有几个立方微米的空间,但如果只是一个单分散的纳米颗粒,下面没有其他干扰,分析区域可以准确到电子束斑大小。对于TEM,则和后面的那种情况相同。顺便说一下:在EDS采集样品信息时,一般建议用取点分析,而不是取框,因为如果不做设定,通常一个点的分析时间和一个框的总分析时间相同,那么一个框的分析时间平均到每个区域点,会使采样时间极其短暂,从而影响定量结果的准确性(信号量不足会影响少量元素组分的定量)。
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