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场发射电镜和扫描电镜的区别（场发射扫描电镜和普通扫描电镜）
发布时间：2023-04-08 07:12:26
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大家好！今天让创意岭的小编来大家介绍下关于场发射电镜和扫描电镜的区别的问题，以下是小编对此问题的归纳整理，让我们一起来看看吧。
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本文目录:
一、投射电镜和扫描电镜原理,透射电镜和扫描电镜的异同点
1.透射电镜使用的信号是forwardscatteringelectrons，而扫描电镜使用的是backwardscatteringelectrons，前者分辨率较后者高,如2010能够达到3nm左右，可得到高分辨率图像，观察位错孪晶等，而后者一般用于观察样品表面形貌，由于扫描电镜景深较大，所以图像立体感强，此外，投射电镜很大一部分时间都花在样品的制备上了，做到几十个微米薄。
2.而相比较扫描电镜样品制备较简单。
二、扫描电镜，透射电镜
看表面形貌形态用扫描电镜，样品处理简单，扫描电镜可以直接观察你需要的表面，最好的场发射扫描电镜在1纳米以下分辨率条件下，可以有效观察10nm左右的结构形态形貌（高低起伏几何形状等），钨灯丝扫描电镜在3nm分辨率条件下，可以有效观察60nm以上的结构形貌，都是比较极限的观察条件。
由于电子穿透深度有限，所以使用透射电子一般无法观察大于几个微米厚度样品的表面形貌。
过去用TEM观察钢铁的表面形貌，需要制作复形碳膜，也就是现在样品表面蒸发几十纳米厚碳膜，然后把金属样品腐蚀掉，只留下复制了样品形貌的几十纳米厚的碳膜，然后用TEM观察这个碳膜，可以间接表征块状物体形貌。所以透射电镜基本无法直接观察表面形貌，需要把样品超薄切片或者离子减薄到微米级，才可以进行观察，一般观察的是内部结构的轮廓形态，不会有表面细节。实际上经过超薄处理的样品表面几乎是平的，没有细节，这个样品在扫描电镜下是没有任何形貌反差的，扫描电镜成像信号不会看到内部结构形态。透射电镜分辨率极高，对于几个纳米的结构形态会很轻松表征，进一步可以看到原子晶格排列。整个视场在几个纳米范围内。
如果真需要更加精细的在几十个纳米范围内观察样品形貌，上面的朋友讲的SPM(包括AFM,STM)也是不错选择，但对样品的严格程度和TEM差不多。
三、扫描电镜原理 什么是场发射
扫描电镜原理：
电子与物质相互作用会产生透射电子，弹性散射电子，能量损失电子，二次电子，背反射电子，吸收电子，X射线，俄歇电子，阴极发光和电动力等等。
电子显微镜就是利用这些信息来对试样进行形貌观察、成分分析和结构测定的。
电子显微镜有很多类型，主要有透射电子显微镜(简称透射电镜，TEM)和扫描电子显微镜(简称扫描电镜，SEM)两大类。
电子束通过加速电压打到样品上，称场发射。
四、扫描电镜和投射电镜的区别
他们之间参数、原理就不说了，很好搜到。
可以这样理解 ：扫描电镜看到的是物体的表面轮廓，产生真实的立体感图像。如下图
而透射电镜可以看到清楚的物体内部结构，如右图
以上就是关于场发射电镜和扫描电镜的区别相关问题的回答。希望能帮到你，如有更多相关问题，您也可以联系我们的客服进行咨询，客服也会为您讲解更多精彩的知识和内容。
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