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SEM测试（sem测试样品要求）
发布时间：2023-04-08 04:17:38
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大家好！今天让创意岭的小编来大家介绍下关于SEM测试的问题，以下是小编对此问题的归纳整理，让我们一起来看看吧。
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本文目录:
一、SEM、TEM、TG、XRD、AFM、红外光谱，这几个分别是测什么的？
测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。
区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收峰的位置与强度反映了分子结构上的特点，可以用来鉴别未知液态水的红外光谱物的结构组成或确定其化学基团；而吸收谱带的吸收强度与化学基团的含量有关，可用于进行定量分析和纯度鉴定。l红外主要用于有机化合物的结构鉴定在有机化学、生物化学、药物学、环境科学等许多领域。
二、sem测试玻璃表面出现雪花是什么原因
sem测试玻璃表面出现雪花原因：
1、检查所有的接头端口，将松动的接头重插一次。
2、试剂的原因，试剂保存不当，导致细菌侵入。
3、返酸现象，需要专用的清洁剂对玻璃表面清洗。
三、sem和光刻机区别
sem和光刻机区别
二者之间结构差异主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。透射电镜（TEM）的样品在电子束中间，电子源在样品上方发射电子，经过聚光镜，然后穿透样品后，有后续的电磁透镜继续放大电子光束，最后投影在荧光屏幕上;扫描电镜（SEM）的样品在电子束末端，电子源在样品上方发射的电子束，经过几级电磁透镜缩小，到达样品。当然后续的信号探测处理系统的结构也会不同，但从基本物理原理上讲没什么实质性差别。
相同之处:都是电真空设备，使用绝大部分部件原理相同，例如电子枪，磁透镜，各种控制原理，消象散，合轴等等。
2、SEM和TEM基本工作原理：
透射电镜（TEM）:电子束在穿过样品时，会和样品中的原子发生散射，样品上某一点同时穿过的电子方向是不同，这样品上的这一点在物镜1-2倍焦距之间，这些电子通过过物镜放大后重新汇聚，形成该点一个放大的实像，这个和凸透镜成像原理相同。这里边有个反差形成机制理论比较深就不讲，但可以这么想象，如果样品内部是绝对均匀的物质，没有晶界，没有原子晶格结构，那么放大的图像也不会有任何反差，事实上这种物质不存在，所以才会有这种牛逼仪器存在的理由。经过物镜放大的像进一步经过几级中间磁透镜的放大（具体需要几级基本上是由电子束亮度决定的,如果亮度无限大，最终由阿贝瑞利的光学仪器分辨率公式决定)，最后投影在荧光屏上成像。由于透射电镜物镜焦距很短，也因此具有很小的像差系数，所以透射电镜具有非常高的空间分辨率，0.1-0.2nm，但景深比较小，对样品表面形貌不敏感，主要观察样品内部结构。

扫描电镜:电子束到达样品，激发样品中的二次电子，二次电子被探测器接收，通过信号处理并调制显示器上一个像素发光，由于电子束斑直径是纳米级别，而显示器的像素是100微米以上，这个100微米以上像素所发出的光，就代表样品上被电子束激发的区域所发出的光。实现样品上这个物点的放大。如果让电子束在样品的一定区域做光栅扫描，并且从几何排列上——对应调制显示器的像素的亮度，便实现这个样品区域的放大成像。具体图像反差形成机制不讲。由于扫描电镜所观察的样品表面很粗糙，一般要求较大工作距离，这就要求扫描电镜物镜的焦距比较长，相应的相差系数较大，造成最小束斑尺寸下的亮度限制，系统的空间分辨率—般比透射电镜低得多1-3纳米。但因为物镜焦距较长，图像景深比透射电镜高的多，主要用于样品表面形貌的观察，无法从表面揭示内部结构，除非破坏样品，例如聚焦离子束电子束扫描电镜FIB-SEM,可以层层观察内部结构。

透射电镜和扫描电镜二者成像原理上根本不同。透射电镜成像轰击在荧光屏上的电子是那些穿过样品的电子束中的电子，而扫描电镜成像的二次电子信号脉冲只作为传统CTR显示器上调制CRT三极电子枪栅极的信号而已。透射电镜我们可以说是看到了电子光成像，而扫描电镜根本无法用电子光路成像来想象。
铄思百检测SEM和TEM样品制备要求：
TEM测试对样品有以下几点要求：
① 粉末、液体样品均可，固体样品太大了的需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样。
② 样品必须很薄，使电子束能够穿透，一般厚度为100~200nm左右;
③ 样品需置于直径为2~3mm的铜制载网上，网上附有支持膜;
④ 样品应有足够的强度和稳定性，在电子线照射下不至于损坏或发生变化;
⑤ 样品及其周围应非常清洁，以免污染。
SEM测试对样品有以下几点要求：
① 粉末样＞0.02g；块状样和生物样，直径小于26mm，高度小于15mm
② 样品中不得含有水分；
③ 导电性差及磁性样品为保证拍摄效果，建议喷金
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四、sem扫描电镜测量需要多长时间
测量时间因样品类型和测试要求而不同。
电镜测量过程包括：制样→放样→确认位置→拍照、测试等。
1、对于简单样品，可能不需要特别制样，直接取样放样（要抽真空）就可以，该过程可能需要几分钟到十几分钟；对于负责样品，可能需要断开、抛光腐蚀或者其他处理，时间就不能确定了，有的可能要半天，抽真空放样可能半个小时；
2、如果单纯拍几张照片，没有特别要求，几分钟就可以确认位置和拍完照片，如果在样品上找某些特定的特征拍照时间就可能长很多（这也与拍照人的操作熟练程度有关），如果还要测能谱或者其他的内容，时间可能会更延长。
如果楼主不能判断自己样品符合以上哪些内容，不能确认时间，可以详细说下你的样品和测试内容，才能准确知道测试时间
以上就是关于SEM测试相关问题的回答。希望能帮到你，如有更多相关问题，您也可以联系我们的客服进行咨询，客服也会为您讲解更多精彩的知识和内容。
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